Die u:cris Detailansicht:
Atom-by-atom chemical identification from scanning transmission electron microscopy images in presence of noise and residual aberrations
- Autor(en)
- Christoph Hofer, Viera Skákalová, Jonas Haas, Xiao Wang, Kai Braun, Robert S. Pennington, Jannik C. Meyer
- Organisation(en)
- Physik Nanostrukturierter Materialien
- Externe Organisation(en)
- Eberhard Karls Universität Tübingen, Hunan University
- Journal
- Ultramicroscopy
- Band
- 227
- Anzahl der Seiten
- 11
- ISSN
- 0304-3991
- DOI
- https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2021.113292
- Publikationsdatum
- 08-2021
- Peer-reviewed
- Ja
- ÖFOS 2012
- 103042 Elektronenmikroskopie, 103018 Materialphysik
- Schlagwörter
- ASJC Scopus Sachgebiete
- Electronic, Optical and Magnetic Materials, Atomic and Molecular Physics, and Optics, Instrumentation
- Link zum Portal
- https://ucrisportal.univie.ac.at/de/publications/e737b406-64cd-4eec-b825-17955e6b74c2