Synchrotron X-ray line profile analysis experiments for the in-situ microstructural characterisation of SPD nanometals during tensile deformation

Autor(en)

Michael B Kerber, Erhard Schafler, Arkadiusz K Wieczorek, Gabor Ribarik, Sigrid Bernstorff, Tamas Ungar, Michael Zehetbauer

Organisation(en)

Physik Nanostrukturierter Materialien

Externe Organisation(en)

Eötvös Loránd University Budapest, Elettra Sincrotrone Trieste

Journal

International Journal of Materials Research

Band

100

Seiten

770-774

Anzahl der Seiten

5

ISSN

1862-5282

DOI

https://doi.org/10.3139/146.110097

Publikationsdatum

2009

Peer-reviewed

Ja

ÖFOS 2012

103023 Polymerphysik, 210006 Nanotechnologie, 103018 Materialphysik

Link zum Portal

https://ucrisportal.univie.ac.at/de/publications/c833a68a-4329-4eea-8792-d1597d2265f4