Combining TEM diffraction and imaging for a complete structural analysis of bulk nanocrystalline materials using example of FeAl

Autor(en)

Christoph Gammer, Clemens Mangler, Hans-Peter Karnthaler, Christian Rentenberger

Organisation(en)

Physik Nanostrukturierter Materialien

Publikationsdatum

2011

ÖFOS 2012

1030 Physik, Astronomie, 210006 Nanotechnologie, 103018 Materialphysik

Link zum Portal

https://ucrisportal.univie.ac.at/de/publications/90519ef9-9156-42f4-957c-663bee21ab73