Microstructure of bulk nanomaterials determined by X-ray line profile analysis

Autor(en)

Tamas Ungar, Erhard Schafler, Jenö Gubicza

Organisation(en)

Physik Nanostrukturierter Materialien

Externe Organisation(en)

Eötvös Loránd University Budapest

Seiten

361-386

Anzahl der Seiten

26

DOI

https://doi.org/10.1002/9783527626892.ch17

Publikationsdatum

2009

ÖFOS 2012

103023 Polymerphysik, 210006 Nanotechnologie, 103018 Materialphysik

Link zum Portal

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