Correlation between the microstructure studied by X-ray line profile analysis and the strength of high-pressure-torsion processed Nb and Ta

Autor(en)

B. Jóni, Erhard Schafler, Michael Zehetbauer, G Tichy, Tamas Ungar

Organisation(en)

Physik Nanostrukturierter Materialien

Externe Organisation(en)

Eötvös Loránd University Budapest

Journal

Acta Materialia

Band

61

Seiten

632-642

Anzahl der Seiten

11

ISSN

1359-6454

DOI

https://doi.org/10.1016/j.actamat.2012.10.008

Publikationsdatum

2013

Peer-reviewed

Ja

ÖFOS 2012

1030 Physik, Astronomie, 210006 Nanotechnologie, 103018 Materialphysik

Link zum Portal

https://ucrisportal.univie.ac.at/de/publications/8fcda369-031a-4134-9360-c460cd8d85c7