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Correlation between the microstructure studied by X-ray line profile analysis and the strength of high-pressure-torsion processed Nb and Ta
- Autor(en)
- B. Jóni, Erhard Schafler, Michael Zehetbauer, G Tichy, Tamas Ungar
- Organisation(en)
- Physik Nanostrukturierter Materialien
- Externe Organisation(en)
- Eötvös Loránd University Budapest
- Journal
- Acta Materialia
- Band
- 61
- Seiten
- 632-642
- Anzahl der Seiten
- 11
- ISSN
- 1359-6454
- DOI
- https://doi.org/10.1016/j.actamat.2012.10.008
- Publikationsdatum
- 2013
- Peer-reviewed
- Ja
- ÖFOS 2012
- 1030 Physik, Astronomie, 210006 Nanotechnologie, 103018 Materialphysik
- Link zum Portal
- https://ucrisportal.univie.ac.at/de/publications/8fcda369-031a-4134-9360-c460cd8d85c7