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Correlation between the microstructure studied by X-ray line profile analysis and the strength of high-pressure-torsion processed Nb and Ta

Autor(en)
B. Jóni, Erhard Schafler, Michael Zehetbauer, G Tichy, Tamas Ungar
Organisation(en)
Physik Nanostrukturierter Materialien
Externe Organisation(en)
Eötvös Loránd University Budapest
Journal
Acta Materialia
Band
61
Seiten
632-642
Anzahl der Seiten
11
ISSN
1359-6454
DOI
https://doi.org/10.1016/j.actamat.2012.10.008
Publikationsdatum
2013
Peer-reviewed
Ja
ÖFOS 2012
1030 Physik, Astronomie, 210006 Nanotechnologie, 103018 Materialphysik
Link zum Portal
https://ucrisportal.univie.ac.at/de/publications/8fcda369-031a-4134-9360-c460cd8d85c7