Die u:cris Detailansicht:

Direct visualization of local deformations in suspended few-layer graphene membranes by coupled in situ atomic force and scanning electron microscopy

Autor(en)
Stefan Hummel, Kenan Elibol, Dengsong Zhang, Krishna Sampathkumar, Otakar Frank, Dominik Eder, Christian Schwalb, Jani Kotakoski, Jannik C. Meyer, Bernhard C. Bayer
Organisation(en)
Physik Nanostrukturierter Materialien
Externe Organisation(en)
GETec Microscopy GmbH, Czech Academy of Sciences, Technische Universität Wien, Eberhard Karls Universität Tübingen, Brno University of Technology, Universität Wien, Shanghai University
Journal
Applied Physics Letters
Band
118
Anzahl der Seiten
7
ISSN
0003-6951
DOI
https://doi.org/10.1063/5.0040522
Publikationsdatum
03-2021
Peer-reviewed
Ja
ÖFOS 2012
103042 Elektronenmikroskopie, 103018 Materialphysik
ASJC Scopus Sachgebiete
Physics and Astronomy (miscellaneous)
Link zum Portal
https://ucrisportal.univie.ac.at/de/publications/74a2544a-1d23-4522-a18e-8291239dced4