Die u:cris Detailansicht:
Direct visualization of local deformations in suspended few-layer graphene membranes by coupled in situ atomic force and scanning electron microscopy
- Autor(en)
- Stefan Hummel, Kenan Elibol, Dengsong Zhang, Krishna Sampathkumar, Otakar Frank, Dominik Eder, Christian Schwalb, Jani Kotakoski, Jannik C. Meyer, Bernhard C. Bayer
- Organisation(en)
- Physik Nanostrukturierter Materialien
- Externe Organisation(en)
- GETec Microscopy GmbH, Czech Academy of Sciences, Technische Universität Wien, Eberhard Karls Universität Tübingen, Brno University of Technology, Universität Wien, Shanghai University
- Journal
- Applied Physics Letters
- Band
- 118
- Anzahl der Seiten
- 7
- ISSN
- 0003-6951
- DOI
- https://doi.org/10.1063/5.0040522
- Publikationsdatum
- 03-2021
- Peer-reviewed
- Ja
- ÖFOS 2012
- 103042 Elektronenmikroskopie, 103018 Materialphysik
- ASJC Scopus Sachgebiete
- Physics and Astronomy (miscellaneous)
- Link zum Portal
- https://ucrisportal.univie.ac.at/de/publications/74a2544a-1d23-4522-a18e-8291239dced4