Software electron counting for low-dose scanning transmission electron microscopy

Autor(en)

Andreas Mittelberger, Christian Kramberger, Jannik C. Meyer

Organisation(en)

Physik Nanostrukturierter Materialien

Journal

Ultramicroscopy

Band

188

Seiten

1-7

Anzahl der Seiten

7

ISSN

0304-3991

DOI

https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2018.02.005

Publikationsdatum

05-2018

Peer-reviewed

Ja

ÖFOS 2012

103042 Elektronenmikroskopie

Schlagwörter

ASJC Scopus Sachgebiete

Electronic, Optical and Magnetic Materials, Instrumentation, Atomic and Molecular Physics, and Optics

Link zum Portal

https://ucrisportal.univie.ac.at/de/publications/6ec0de41-5683-4fee-93ce-9edbb678df35