Experimental and analytical study of geometry effects on the fatigue life of Al bond wire interconnects

Autor(en)

Bernhard Czerny, I. Paul, G. Khatibi, M. Thoben

Organisation(en)

Physik Nanostrukturierter Materialien

Externe Organisation(en)

Infineon

Journal

Microelectronics Reliability

Band

53

Seiten

1558-1562

Anzahl der Seiten

5

ISSN

0026-2714

DOI

https://doi.org/10.1016/j.microrel.2013.07.090

Publikationsdatum

09-2013

Peer-reviewed

Ja

ÖFOS 2012

202025 Leistungselektronik, 103018 Materialphysik, 201108 Bruchmechanik

Link zum Portal

https://ucrisportal.univie.ac.at/de/publications/60896672-4502-41c8-96cf-227a3e3a67ab