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Analysis of Point Defects in Graphene Using Low Dose Scanning Transmission Electron Microscopy Imaging and Maximum Likelihood Reconstruction

Autor(en)
Christian Kramberger, Andreas Mittelberger, Christoph Hofer, Jannik C. Meyer
Organisation(en)
Physik Nanostrukturierter Materialien
Journal
Physica Status Solidi. B: Basic Research
Band
254
Anzahl der Seiten
6
ISSN
0370-1972
DOI
https://doi.org/10.1002/pssb.201700176
Publikationsdatum
11-2017
Peer-reviewed
Ja
ÖFOS 2012
103042 Elektronenmikroskopie, 103018 Materialphysik
Schlagwörter
ASJC Scopus Sachgebiete
Electronic, Optical and Magnetic Materials, Condensed Matter Physics
Link zum Portal
https://ucrisportal.univie.ac.at/de/publications/5efc652f-8646-4b89-accb-99da8785698a