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Analysis of Point Defects in Graphene Using Low Dose Scanning Transmission Electron Microscopy Imaging and Maximum Likelihood Reconstruction
- Autor(en)
- Christian Kramberger, Andreas Mittelberger, Christoph Hofer, Jannik C. Meyer
- Organisation(en)
- Physik Nanostrukturierter Materialien
- Journal
- Physica Status Solidi. B: Basic Research
- Band
- 254
- Anzahl der Seiten
- 6
- ISSN
- 0370-1972
- DOI
- https://doi.org/10.1002/pssb.201700176
- Publikationsdatum
- 11-2017
- Peer-reviewed
- Ja
- ÖFOS 2012
- 103042 Elektronenmikroskopie, 103018 Materialphysik
- Schlagwörter
- ASJC Scopus Sachgebiete
- Electronic, Optical and Magnetic Materials, Condensed Matter Physics
- Link zum Portal
- https://ucrisportal.univie.ac.at/de/publications/5efc652f-8646-4b89-accb-99da8785698a