Analysis of Point Defects in Graphene Using Low Dose Scanning Transmission Electron Microscopy Imaging and Maximum Likelihood Reconstruction

Autor(en)

Christian Kramberger, Andreas Mittelberger, Christoph Hofer, Jannik C. Meyer

Organisation(en)

Physik Nanostrukturierter Materialien

Journal

Physica Status Solidi. B: Basic Research

Band

254

Anzahl der Seiten

6

ISSN

0370-1972

DOI

https://doi.org/10.1002/pssb.201700176

Publikationsdatum

11-2017

Peer-reviewed

Ja

ÖFOS 2012

103042 Elektronenmikroskopie, 103018 Materialphysik

Schlagwörter

ASJC Scopus Sachgebiete

Electronic, Optical and Magnetic Materials, Condensed Matter Physics

Link zum Portal

https://ucrisportal.univie.ac.at/de/publications/5efc652f-8646-4b89-accb-99da8785698a