Scanning Transmission Electron Microscopy as a Part of an Integrated Vacuum Setup for Growth and Manipulation of 2D Materials

Autor(en)

Umair Javed, Carsten Speckmann, Wael Joudi, Manuel Längle, Alberto Trentino, Elina Harriet Ahlgren, David Lamprecht, Clemens Mangler, Kimmo Mustonen, Toma Susi, Jani Kotakoski

Organisation(en)

Physik Nanostrukturierter Materialien

Externe Organisation(en)

University of Helsinki

Journal

Microscopy and Microanalysis

Band

30

Anzahl der Seiten

2

ISSN

1431-9276

DOI

https://doi.org/10.1093/mam/ozae044.547

Publikationsdatum

07-2024

Peer-reviewed

Ja

ÖFOS 2012

103042 Elektronenmikroskopie, 210004 Nanomaterialien, 103018 Materialphysik

ASJC Scopus Sachgebiete

Instrumentation

Link zum Portal

https://ucrisportal.univie.ac.at/de/publications/4f4c1a03-c12b-4e8b-b709-f694369d02a8