Correlated AFM/STEM Study on the Mechanical Stiffness of Defect-Engineered Graphene

Autor(en)

Wael Joudi, Alberto Trentino, Kimmo Mustonen, Clemens Mangler, Jani Kotakoski

Organisation(en)

Physik Nanostrukturierter Materialien

Journal

Microscopy and Microanalysis

Band

28

Seiten

2626-2628

Anzahl der Seiten

3

ISSN

1431-9276

DOI

https://doi.org/10.1017/S1431927622009977

Publikationsdatum

07-2022

ÖFOS 2012

103008 Experimentalphysik, 103009 Festkörperphysik, 103018 Materialphysik, 103042 Elektronenmikroskopie

Link zum Portal

https://ucrisportal.univie.ac.at/de/publications/1b7bf19e-a032-453e-8a37-827fa66895a6