Hier sehen Sie die Publikationen einer gesamten Organisationseinheit. In diesem Fall die 'Fakultät für Mathematik'. Das Häkchen für 'Subeinheiten einschließen' ist gesetzt, dadurch werden alle untergeordneten Institute, Departments etc. mit einbezogen. Die Publikationen werden nach Jahren gruppiert und zeitlich abfallend sortiert.

Die Auswahl wurde auf Veröffentlichungen ab 2019 eingeschränkt, alle Publikationstypen wurden eingeschlossen, der Publikationsstatus wird angezeigt falls er von 'Publiziert' abweicht.

Da eine Detailansicht konfiguriert wurde, wird der dorthin verlinkende 'Mehr...' Button angezeigt. Unabhängig davon sind Autoren, Journale und die Publikation selbst auf Detailseiten im u:cris Portal verlinkt.

[Translate to Englisch:] Publikationen einer Einheit

Simonović K, Ferstl R, Barlow A, Shayeghi A, Brand C, Arndt M. Diffraction of polar molecules at nanomasks with low charge density. Physical Review Research. 2024 Jul;6(3):033109. doi: 10.48550/arXiv.2401.05854, 10.1103/PhysRevResearch.6.033109

Schmidt P, Claessen R, Higgins G, Hofer J, Hansen JJ, Asenbaum P et al. Remote sensing of a levitated superconductor with a flux-tunable microwave cavity. Physical Review Applied. 2024 Jul;22(1):014078. doi: 10.1103/PhysRevApplied.22.014078

Astner T, Koller P, Gilardoni CM, Hendriks J, Tien Son N, Ivanov IG et al. Vanadium in silicon carbide: telecom-ready spin centres with long relaxation lifetimes and hyperfine-resolved optical transitions. Quantum Science and Technology. 2024 Jul;9(3):035038. doi: 10.48550/arXiv.2206.06240, 10.1088/2058-9565/ad48b1

Renner MJ. Compatibility of Generalized Noisy Qubit Measurements. Physical Review Letters. 2024 Jun 21;132(25):250202. doi: 10.1103/PhysRevLett.132.250202

Vrabcová M, Houska M, Spasovová M, Forinová M, Pilipenco A, Víšová IM et al. Effects of storage on stability and performance of carboxybetaine-based polymer brushes. In Berghmans F, Zergioti I, editors, Optical Sensing and Detection VIII. SPIE. 2024. 129990O. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, Vol. 12999). doi: 10.1117/12.3017613